NAND 闪存颗粒质量筛选测试；极端温度环境可靠性验证；航天级SSD量产测试、性能验证及故障排查；固存系统软件、FPGA 平台代码的功能验证及性能稳定性测试。

适用场景

产品系列

NAND 筛测系统

本系统可检测SLC、MLC、TLC、QLC类型闪存，支持从1xnm到56nm（包括1xnm、25nm、34nm、56nm）的多制程NAND颗粒，并兼容ONFI与Toggle接口。其封装支持GA152、BGA132扩展类型，可适配国内外众多主流厂商的元器件。系统内置高效测试算法与寿命预测功能，能够精准完成失效分析、等级分拣与可靠性评估的全流程测试，以此满足多元化测试需求，为存储质量筑牢第一道防线。

SSD 测试系统（含极端温度测试）

本系统可对 2.5 寸 SATA、mSATA 及非标准 SATA 接口 SSD 进行全生命周期测试，涵盖极端环境模拟与硬盘生命周期验证功能。其功耗采集精度达 0.01W/10ms，支持 FIS 级 POR、SPOR 掉电测试，配备可视化UI操作界面，具备数据库创建、自定义测试用例及自动生成报告的能力。

系统还具备 - 75℃~150℃环境模拟功能与≥3℃/min 的变温能力，可精准模拟空间极端环境；最大支持 16 块 NAND 或 SSD 板卡同时测试，极大提升测试效率，大幅缩短测试周期，确保产品在空间环境下具备高可靠性与高性能。

单元检测3.0

艾可萨单元检测3.0是面向卫星地检与中高端工业的高性能检测设备。基于 XILINX Zynq-7000 可编程SOC芯片，集成丰富高速接口与宽温特性，向被检测设备进行实践模拟。 该硬件设备的 SOC 型 FPGA 采用 XC7Z100-FPG900I 型号，基于 Cortex-A9 双核 ARM+FPGA 架构；配置1路千兆以太网，2路PS端调试串口，3路CAN接口（2路PS端CAN接口+1路PL端CAN接口），2路RS485接口，LVDS 接口包含 32 路发送和 8 路接口，4路RS422 接口，2 路 10G 光口，GTX14个Lane，推荐电源电压 12VDC，功耗15.24W。